Sondare cu plăcuță semiconductoare

Sarcini

Circuitele optice dispuse pe plăcuța semiconductoare SiPh trebuie testate și ele în numeroase situații. În acest scop, se folosește o masă XY dispusă central, pentru transportul plăcuței semiconductoare. Chiar dacă testul prezintă și el câteva grade de libertate în multe cazuri, nu poate acoperi toată suprafața plăcuței.

Soluție

Este utilizat un sistem XY adaptat clienților, în jurul căruia pot fi dispuse câteva stații de testare, pentru sporirea capacității de procesare. Poziționarea aproximativă este realizată de masa XY, poziționarea precisă este realizată în câteva sisteme de aliniere cu 6 grade de libertate.

Avantaje

• Axe standard pentru sarcini de tip Pick&Place (preluare și amplasare)
• Soluții personalizate în funcție de nevoile clientului, în cadrul tuturor claselor de acuratețe
• Dezvoltarea și producția masei XY, cu baza completă
• Sistem integral de măsurare de înaltă rezoluție permite un grad înalt de stabilitate în poziția necesară, cu o instabilitate scurtă de câțiva nm