Leiterplatten

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Genauigkeit im μ-Bereich 

Elektronische Baugruppen werden immer kleiner und komplexer. Die Verdrahtungs- und Packungsdichte wird kontinuierlich erhöht. Durch die ständig fortschreitende Miniaturisierung kommen die klassischen Multilayer-Platinen an ihre physikalischen Grenzen und werden durch HDI-Leiterplatten abgelöst. Damit erhöht sich in der Fertigung und der optischen Inspektion auch die Positioniergenauigkeit in den μ-Bereich. WEISS bietet mit seinen Präzisionssystemen, teils auf Granit, in seinem Portfolio auch dafür passgenaue Lösungen für Transport, Drehen und Bewegen.

Typische Prozesse

  • Nutzentrennung
  • Besäumen der Leiterplatten
  • Produktion von Serienwerkzeugen für das taktile Testen / Bestückung dieser Werkzeuge mit den Testpins
  • Kundenspezifische Subsysteme für Wire-Bonding und FlipChip-Bonding

Anwendungsbeispiele

Nutzentrenner von Leiterplatten

Nutzentrenner von Leiterplatten

Achssystem mit Linearmotorachsen HN auf Granit zur Lasertrennung von Leiterplatten

Leiterplatteninspektion

Leiterplatteninspektion

Granitsystem für optische Inspektion